精神分裂症的背外侧前额叶皮层中N-乙酰天冬氨酸和谷氨酸盐的去耦

作者: J.M. Coughlin, T. Tanaka, A. Marsman, H. Wang, S. Bonekamp, P.K. Kim, C. Higgs, M. Varvaris and R.A.E. Edden, M. Pomper, D. Schretlen, P.B. Barker and A. Sawa

卷 15, 期 2, 2015

页: [176 - 183] 页: 8

弟呕挨: 10.2174/1566524015666150303104811

价格: $65

摘要

谷氨酸能通路的功能异常可能是精神分裂症的病理基础。在疾病病理学中氧化应激的证据也被报道。N-乙酰天冬氨酸既在新陈代谢上与级联有关,也可能是探索谷氨酸能通路和氧化应激互连的一个关键标志物。几项研究已经报道,在一些健康受试者的大脑区域,通过使用氢核磁共振谱([1H]MRS)的测定,NAA和Glx的水平之间存在正相关(谷氨酸和谷氨酰胺的总和)。有趣的是,一个研究小组最近报道了精神分裂症患者的海马回中NAA和Glx之间的解耦关系。在此,我们报告了用氢核磁共振谱测定的NAA和Glx水平,相对肌酸的水平(Cr)作为内标。对25例精神分裂症患者和17个匹配的健康对照组的背外侧前额叶皮层(DLPFC)和前扣带皮层(ACC)进行了研究。在进行了年龄和吸烟状况影响的校正,和多重比较校正后,健康对照组的背外侧前额叶皮层中NAA/Cr和Glx/Cr值呈极显著的正相性(r = 0.627,P = 0.627)。然而,在精神分裂症患者中NAA/Cr和Glx/Cr值没有观察到正相关性,即使校正了这两个变量(r = -0.330,P = -0.330)。两组的前扣带皮层中NAA/Cr和Glx/Cr值均未观察到正相关性。背外侧前额叶皮层中N-乙酰天冬氨酸和谷氨酸盐的解耦可能反映了精神分裂症病理学中谷氨酸能通路和氧化应激之间的关联,其可能是疾病的生物标志物。

关键词: 前扣带皮层(ACC),背外侧前额叶皮层(DLPFC),谷氨酸盐,N-乙酰天冬氨酸(NAA),线粒体,氧化应激,氢核磁共振谱([1H]MRS)


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